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面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬覆蓋層，再校對儀器零點。
（5）磁場：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。
（6）附著物質(zhì)：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
（7）探頭的位置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。
（8）讀書次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進行測量，表面粗糙時更應(yīng)如此。
4.測量結(jié)果
在所選擇的面積中，至少測出5個點；對于梁和柱在所選擇的位置中，分別測出6個和8個點。分別計算出它們的平均值，精確到0.5mm。