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德國PHYNIX Surfix SX-FN1.5涂層測(cè)厚儀

SurfixEX




規(guī)格


SurfixSX-FN1.5(探頭可選配)


外部固定探頭




測(cè)量范圍


FN1.5(0-1500um)取決于探頭


0 - 1,500m




準(zhǔn)確性


+/-(1m+讀數(shù)的1%)取決于探頭


+/-(1m+讀數(shù)的1%)




解析度


0.1m或0.2%的讀數(shù)(使用標(biāo)準(zhǔn)探頭)


0.1m或0.2%的讀數(shù)(使用標(biāo)準(zhǔn)探頭)




校準(zhǔn)方法


工作校準(zhǔn),零校準(zhǔn),單箔校準(zhǔn);零偏移



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